回收Tektronix/DSA8300/数字采样示波器

DSA8300DSA8300

回收Tektronix/DSA8300/数字采样示波器

 
主要特点
    
优点
电接口模块信号测量精度：

    超低系统抖动(<100 fs, 典型值)
    >70GHz, 100 fs抖动采集

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黄S（同V）：15015266767；Q号：2441688423；  地址：广东省东莞市塘厦镇美华中心703  公司：东莞市亿测电子有限公司

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    <100 fs固有抖动，测试仪器占用的信号单位间隔一般<5%，可以检定高信息速率(40和100 (4′25) Gb/s)器件。70 GHz带宽可以全面检定高信息速率信号(五阶谐波，28 Gb/s数据速率；三阶谐波，> 45 Gb/s数据速率)。
在所有带宽下提供业内zui低的系统噪声：

    600 μVzui大值 (450 μV典型值) - 60 GHz
    380 μVzui大值 (280 μV典型值) - 30 GHz
 

主要特点

各种光接口模块、电接口模块和附件模块可以满足您的特定测试要求。

光接口模块

支持从 155 Mb/s 到 10 Gb/s、40 Gb/s、100 Gb/s 和 50G/100G/200G/400G PAM4 光数据速率的光模块

光基准接收机(ORR) 1 满足了标准规定的*性测试中指定的要求

光接口采样模块提供了高光学灵敏度、低噪声及宽动态范围，可以准确地测试和检定短程到远程光接口通信标准

经过全面校准的时钟恢复解决方案 – 不需要手动校准数据捡拾损耗

已校准消光比测量和变量校正 ER 测量可确保精度和重复能力

电接口模块

超低噪声电采样器（20GHz 时 280 μV，60GHz 时 450 μV，典型值）

可以选择带宽2，用户可以平衡带宽和噪声，实现优秀的数据采集性能

远程采样器或紧凑的采样扩展器模块电缆大限度地减少信号劣化，因为采样器可以放在被测器件附近

高性能集成 TDR（10 ps 典型步进上升时间）支持杰出的阻抗不连续性检定，对带宽高达 50GHz 的 S 参数测量提供了高动态范围

分析

对速率在 <1 GBd 到 60 GBd 之间的高速 PAM4 和 PAM2 NRZ 串行数据执行抖动、噪声和 BER

80STDEC 简化了高性能发射机和色散眼图闭合 (TDEC) 测量，使其非常适合生产和*性验证应用

自动模板测试，支持 80 多种行业标准模板。新模板可以导入 DSA8300，支持各种新兴标准。用户可以定义自己的模板，自动进行模板测试

抖动、噪声、BER、模板测试和串行数据链路分析 (SDLA) 通过 80SJNB Essentials 和 Advanced 应用软件选项提供

高级 TDR 分析、S 参数测量、仿真模型提取和串行链路仿真功能通过 IConnect? 应用软件选项提供

400G-M4 光制造分析软件提供了光发射机和色散眼图闭合象限(TDECQ)分析功能

高测试吞吐量

每条通道高达 200 kS/s 的高采样率

高效编程接口（IEEE-488、以太网或本地处理器接入）实现高测试吞吐量

    在采集高信息速率、低幅度信号时zui大限度地降低仪器噪声数量，消除额外噪声，这些噪声本身可能表现为额外的抖动和眼图闭合。
在一台主机中zui多6通道同时采集数据，<100 fs抖动    对多条差分通道进行高保真采集，可以测试跨通道损伤，改善拥有多条高速串行通道的系统的测试吞吐量。
光接口模块支持40 Gb/s和100 Gb/s (4x25)以太网光接口*性测试    为40 Gb和100 Gb (4x25), IEEE 802.ba以太网标准提供经济的通用光接口测试系统。
杰出的采集吞吐量，zui大采样率高达300 kS/s    杰出的系统吞吐量，把制造或器件检定测试时间降低4倍。
能够让采样器紧邻被测器件(DUT)    远程采样头，zui大限度地降低由于DUT到仪器的布线和夹具引起的信号劣化，简化测试系统反嵌。
独立校正校准后的通道偏移    

双通道模块集成校准后通道偏移校正功能，消除偏移校正，增强多通道测量的信号保真度。