温度冲击试验是规定温度转换时间的高低温交替循环试验。受试产品暴露于温度快速变化的空气中,交替暴露在极端高温和极端低温试验环境下。它用来确定受试产品耐受环境温度快速变化的能力。这就像是对产品进行一场极端的"突击考试",可以快速暴露出在普通测试中难以发现的潜在缺陷。其核心逻辑是利用剧烈的热胀冷缩效应,检验产品结构和材料的极限。
在产品研发阶段,温度冲击试验就像一位"严苛的预审官"。从手机芯片到卫星部件,从汽车电子到医疗装备等各类电工电子产品,温度冲击试验都起到至关重要的作用,可以精准的评估产品在快速温度变化环境条件下的稳定性与可靠性。
一、温度冲击试验的意义
1.评估产品适应性:确定测试产品在周围大气温度急剧变化时的适应性及被破坏性,即产品能否经受其周围大气温度的急剧变化,而不产生物理损坏或性能下降。这对于确保产品在实际使用中的可靠性至关重要。
2.发现设计与工艺缺陷:在工程研制阶段,温度冲击测试可用于发现产品的设计和工艺缺陷,为改进设计提供依据。通过对产品在极端温度条件下的性能进行测试,可以及早发现潜在的问题并采取相应的措施进行改进。
3.验证产品可靠性:在产品定型或设计鉴定和量产阶段,温度冲击测试用于验证产品对温度冲击环境的适应性,为设计定型和量产验收决策提供依据。这有助于确保产品在市场上的竞争力和用户满意度。
二、温度冲击核心测试参数
高温温度极限值、低温温度极限值、温度转换时间、高温极值保持时长、低温极值保持时长、循环次数。
三、温度冲击试验时间
高低温极限值的保持时间通常为1小时、2小时、3小时不等。也有保持时间短的,一般适用于小型的受试产品,如保持时长15分钟。
循环次数若没有另外的规定,通常选择测试5个循环周期。
四、温度冲击试验的温度转换时间通常为多久?
1.对于普通的电工电子设备,通常要求温度转换时间为≤3分钟,若采用两箱法测试时,由于产品尺寸过大,没法在3分钟以内实现转换的,可以适当延长转换时间。
2.对于非民用系统或设备,通常要求温度转换时间应尽可能的短,通常要求≤1分钟。
3.对于器件芯片级的产品,所要求的温度转换时间z短,有的要求在10秒钟以内实现温度转换。
五、温度冲击试验设备的选择
1.两个高低温试验箱(人工)
可用两个高低温试验箱,采用人工搬运的方式,将样品在两台普通温度试验箱中转移,实现转换时间≤3分钟。
2. 提篮式温度冲击试验箱
提篮式温度冲击试验箱由热箱、冷箱和提篮组成。样品被放置在提篮里面,并由机械结构带动提篮在热箱和冷箱之间移动。
3. 风门式温度冲击箱
风门式温度冲击箱也叫三箱式温度冲击箱,是由冷箱、热箱、试验舱组成。受试产品被放置在实验舱,冷箱和热箱各设计有一个风门,并通过程序控制,自动将热空气或冷空气送入实验舱。通常风门式温度冲击箱还设计有环境空气交换用的风门,用于在切换温度时,将实验舱内的冷热空气与环境空气交换,以达到节能和加快温度转换的目的。
六、温度冲击试验常用检测标准
1.GB/T2423.22-2012《环境试验 第2部分: 试验方法 试验N: 温度变化》;
2.IEC60068-2-14:2009《环境试验 第2-14部分: 试验方法 试验N: 温度变化》;
3.GJB150.5A-2009《装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验》;
4.GJB 360B-2009《电子及电气元件试验方法》;
5.GJB548B-2005《微电子器件试验方法和程序》。
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